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半导体参数测试仪igbt检测仪

更新:2026-06-03 13:40:04 编号:592 发布IP:113.57.118.138 浏览:2次
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产品名称: 半导体参数测试仪igbt检测仪
发布企业: 武汉普赛斯仪表有限公司
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关键词:半导体参数测试仪,半导体参数分析仪,IGBT检测仪,功率半导体测试,功率器件测试
产品详情

普赛斯功率器件静态测试解决方案

普赛斯功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。


IGBT测试系统图


普赛斯功率器件静态测试系统配置由多种测量单元模块组成,系统模块化的设计能够极大方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。


“双高”系统优势

 高电压、大电流

  具有高电压测量/输出能力,电压高达3500V

  具有大电流测量/输出能力,电流高达1000A(可拓展至3000A)

 高精度测量

  nA级漏电流, μΩ级导通电阻

  0.1%精度测量

 模块化配置

  可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元系统预留升级空间,后期可添加或升级测量单元

 测试效率高

  内置专用开关矩阵,根据测试项目自动切换电路与测量单元

  支持国标全指标的一键测试

 扩展性好

  支持常温及高温测试可灵活定制各种夹具


测试项目
集电极-发射极电压Vces,集电极-发射极击穿电压V(br)ces、集电极-发射极饱和电压Vcesat
集电极截止电流Ices、栅极漏电流Iges
栅极-发射极电压Vges、栅极-发射极阈值电压Vge(th)
输入电容、输出电容、反向传输电容
续流二极管压降Vf
I-V特性曲线扫描,C-V特性曲线扫描等


联系我们:

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼

Tel:027-87993690

Mobile:18140663476

QQ:1993323884

Email:taof@whprecise.com

法定代表人
注册资本0万元
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