数字源表

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硅光晶圆测试多通道数字源表PXIe插卡式源表

支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

07-13 201 0

武汉普赛斯MEMS传感器电性能分析多通道源表PXIe插卡式支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

07-21 201 0

06-17 208 0

06-04 228 0

标准的SCPI指令集，上位机软件功能丰富、支持二次开发集成，专用于分立器件电性能测试

06-03 229 0

标准的SCPI指令集，上位机软件功能丰富、支持二次开发集成，可用于大电流脉冲测试、微弱电流信号测试场景，Z大脉冲输出电流达30A

06-04 235 0