数字源表

微电流数字源表替代2450源表

标准的SCPI指令集，上位机软件功能丰富、支持二次开发集成，专用于分立器件电性能测试

PXIe插卡式源表多通道可拓展至136通道

高精度国产台式源表微电流测试数字源表

硅光晶圆测试多通道数字源表PXIe插卡式源表

支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式源表

武汉普赛斯MEMS传感器电性能分析多通道源表PXIe插卡式支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

8通道多路数字源表PXIe插卡式源表

武汉普赛斯PXIe系列8通道多路数字源表PXIe插卡式源表高精度、高采样率、高通道密度，标准的SCPI指令集、支持二次开发能力，广泛用于硅光、IC、分立器件WAT、MEMS电性能测试

LD激光器电性能测试数字源表台式多通道SMU

能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持±30V/±5A脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS232/RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集

微小电流测试SMU数字源表

集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流分辨率10pA，支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材料与纳米材料等特性测试和分析

钙钛矿电池片电性能测试数字源表国产SMU

基于数字源表搭建的单通道及多通道太阳能电池I-V测试系统，为光伏器件的研究、质检以及应用提供可靠的工具，旨在帮助科研学者节约时间用于下一个科研突破。同时提供了不同的选型配置，满足不同功率和精度的测试需求。