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电性能测试

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MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式源表 特稿

MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式源表

武汉普赛斯MEMS传感器电性能分析多通道源表PXIe插卡式支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

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钙钛矿电池片电性能测试数字源表国产SMU

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基于数字源表搭建的单通道及多通道太阳能电池I-V测试系统，为光伏器件的研究、质检以及应用提供可靠的工具，旨在帮助科研学者节约时间用于下一个科研突破。同时提供了不同的选型配置，满足不同功率和精度的测试需求。

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