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iv曲线仪

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国产半导体参数分析仪iv+cv曲线测试仪 特稿

国产半导体参数分析仪iv+cv曲线测试仪

具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有着越的测量效率与可靠性

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