插卡式源表

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PXIe插卡式源表多通道可拓展至136通道

2026-06-04 151 0

武汉普赛斯PXIe源表高精度、高采样率、高通道密度，标准的SCPI指令集、支持二次开发能力，广泛用于硅光、IC、分立器件WAT、MEMS电性能测试

06-08 149 0

支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

07-13 106 0

武汉普赛斯MEMS传感器电性能分析多通道源表PXIe插卡式支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

07-21 102 0

武汉普赛斯PXIe系列8通道多路数字源表PXIe插卡式源表高精度、高采样率、高通道密度，标准的SCPI指令集、支持二次开发能力，广泛用于硅光、IC、分立器件WAT、MEMS电性能测试

08-11 61 0